nPA-400 折射率分析仪提供准确且可重复的折射率数据，提供有关光纤设计和制造过程的宝贵信息，在几秒钟内测量折射率！无需旋转光纤或扫描光纤端面，测量速度非常快，使用改进的折射近场技术来分析光纤的端视图灰度强度分布，以确定其完整的 2D 折射率分布。光纤模式测量分析仪STAR-CMC-1550可测量空芯和实芯少模光纤,直径高达400µm,波长：1480～1630 nm，使用空间和光谱分辨成像 (S2) 技术来识别少模光纤的传播模式，可重建被测光纤的导模轮廓和相位，可测量空芯和实芯少模光纤，直径高达400µm，可分析 2000 张图像。
我们一站式供应各种类型的光纤分析仪,光纤折射率分析仪,折射率分析仪,光纤模式分析仪,光纤模式测量分析仪，可提供选型、技术指导、安装培训、个性定制等全生命周期、全流程服务，欢迎联系我们的产品经理！
在几秒钟内即可测量光纤折射率！
STAR-nPA-400 是获取用于验证标准和特种光纤所需的折射率数据的快速、简单且低成本的方法。
最少化需要的光纤准备工作，同时干净、高效的图形用户界面允许用户以最少的培训或经验充分表征他们的光纤。 STAR-nPA-400 提供准确且可重复的折射率数据，提供有关光纤设计和制造过程的宝贵信息。
STAR-nPA-400 折射率分析仪使用改进的折射近场技术来分析光纤的端视图灰度强度分布，以确定其完整的 2D 折射率分布。
使用时无需旋转光纤或扫描光纤端面，并且测量速度非常快，这意味着 STAR-nPA-400 非常适用于生产线、研发实验室或 QA 环境。
秒测
非常快速和简单的光纤准备工作——只需切割和插入光纤
高度用户友好的软件
可测量直径高达 400 µm 的光纤
测量非圆形对称纤维——适用PM；八角形，多核
可溯源校准
STAR-CMC-1550光纤模式测量分析仪使用空间和光谱分辨成像 (S2) 技术来识别少模光纤的传播模式。它由两个不同的单元组成：一个可调谐激光器和一个接收器单元。 STAR-CMC-1550 允许获得每种传播模式的差分群延迟 (DGD) 以及与最激发模式相比的相对强度或多径干扰 (MPI)。此外，STAR-CMC-1550 允许重建被测光纤的导模轮廓和相位。
可测量直径高达400µm的光纤
可测量空芯和实芯少模光纤
可重建传播模式剖面和相位
可计算高阶模式与最激发模式相比的相对强度
可计算传播模式的DGD
纤维直径：< 400µm
光纤长度：5～100m
测量时间**：< 90 秒
光纤类型：少模实芯和空芯光纤
可分析 2000 张图像
测量波长：1480～1630 nm
波长分辨率：10 pm
最大DGD：365 ps
DGD分辨率：0.05 ps
图像传感器：InGaAs 10.8x12.3 mm，512x640 像素，20 µm 像素间距
曝光范围：0.1ms至20ms曝光时间
A/D转换：16位
重量：7kg（可调谐激光）； 8kg（接收单元）
尺寸：0.22m x 0.385m x 0.131m（可调谐激光器）； 0.306m x 0.606m x 0.145m（接收器单元）
工作温度：15-300℃
湿度：相对湿度5%-95%，非冷凝
计算机要求：所有系统均配备运行最新Windows操作系统的计算机
数据接口：1 X USB 3.0（USBA to USBB：提供1m电缆）
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