Beam'R2非常适合于许多激光光束分析的应用。 通过标准的2.5μm宽度大小的狭缝和更大的刀口切面，Beam'R2能够测量直径小至2μm的激光光束。 通过选择硅和InGaAs或扩展的InGaAs，Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。Beam'R2扫描狭缝仪器提供比基于相机的系统更高的分辨率。
我们一站式供应各种类型的激光分析仪，光束分析仪，光斑分析仪，光斑轮廓测量仪，狭缝扫描仪，光束质量分析仪，激光断面分析仪，光束轮廓仪，可提供选型、技术指导、安装培训、个性定制等全生命周期、全流程服务，欢迎联系我们的产品经理！
Beam'R2非常适合于许多激光光束分析的应用。 通过标准的2.5μm宽度大小的狭缝和更大的刀口切面，Beam'R2能够测量直径小至2μm的激光光束。 通过选择硅和InGaAs或扩展的InGaAs，Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。Beam'R2扫描狭缝仪器提供比基于相机的系统更高的分辨率。
产品特点：
多种检测器选项，范围为 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm，硅探测器
650 至 1800 nm，InGaAs 探测器
1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
符合 ISO 标准的光束直径测量
端口供电的 USB 2.0
自动增益功能
用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量的可选载物台附件
True2D™ 狭缝
分辨率达 0.1 μm
5 Hz 更新速率（可调 2 至 10 Hz）
剖面 CW/准连续波光束
光束直径 5 μm 至 4 mm，刀锋模式下为 2 μm
典型应用：
非常小的激光光束轮廓分析
光学组装和仪器调校
OEM 集成
镜头焦距测试
实时诊断聚焦和对准错误
实时将多个组件设置到同一焦点
使用可用的 M2DU 阶段进行 M² 测量
规格参数：
| 项目 | 详情 |
| 波长范围 | Si 探测器：190 to 1150 nmInGaAs 探测器：650 to 1800 nm Si + InGaAs 探测器：190 to 1800 nm Si + 扩展 InGaAs 探测器：190 to 2300 或 2500 nm |
| 扫描光束直径 | Si 探测器：5 µm 至 4 mm，刀口模式下最小至 2 µm InGaAs 探测器：10 µm 至 3 mm，刀口模式下最小至 2 µm 扩展 InGaAs 探测器：10 µm 至 2 mm，刀口模式下最小至 2 µm |
| 光束腰直径测量 | 二阶矩（4σ）直径，符合 ISO 11146 Gaussian 与 Top Hat 拟合 1/e²（13.5%）宽度 用户可选百分比峰值 适用于极小光束的刀口模式 |
| 支持测量光源 | CW（连续波）、Quasi-CW（准连续波）光源 |
| 分辨率精度 | 0.1 µm 或扫描范围的 0.05% ± < 2%，或 ± = 0.5 µm |
| 最大功率与辐照度 | 最大总功率 1 W，最大功率密度 0.5 mW/µm² |
| 增益范围 | 开关控制增益范围 1,000:1 ADC 动态范围 4,096:1 |
| 图形显示 | X-Y 位置与轮廓图，支持 x1 至 x16 缩放 |
| 更新速率 | 约 5 Hz，可调节范围 2 至 10 Hz |
| 合格/不合格显示 | 屏幕可选择合格/不合格颜色，适合质检与生产使用 |
| 平均功能 | 用户可选运行平均（1 至 8 次采样） |
| 统计功能 | 最小值、最大值、平均值、标准差支持长时间数据记录 |
| XY 轮廓与重心 | 支持光束漂移显示与记录 |
| 最低系统要求 | Windows 10 64-bit |
轮廓图：
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