BeamMap2 Collimate 经代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量能力，允许在光束行进过程中的多个位置进行测量。这种实时扫描狭缝系统使用旋转圆盘上多个 Z 平面中的 XY 狭缝对同时测量四个不同 Z 位置的四个光束轮廓。BeamMap2 的独特设计最有利于实时测量焦点位置、M²、光束发散和指向。与
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BeamMap2 Collimate 经代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量能力，允许在光束行进过程中的多个位置进行测量。这种实时扫描狭缝系统使用旋转圆盘上多个 Z 平面中的 XY 狭缝对同时测量四个不同 Z 位置的四个光束轮廓。BeamMap2 的独特设计最有利于实时测量焦点位置、M²、光束发散和指向。与标准 BeamMap2 相比，BeamMap2 Collimate 经过特别设计，平面间距显著增加了 5 毫米，以便用于准直良好的光束。
主要特点：
多种探测器选项，覆盖 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm，硅探测器
650 至 1800 nm，InGaAs 探测器
1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
符合 ISO 标准的光束直径测量
端口供电 USB 2.0
自动增益功能
可选载物台配件，适用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量
True2D™ 狭缝
分辨率达 0.1 µm
5 Hz 更新率（可调节范围为 2 至 10 Hz）
轮廓连续/准连续光束
光束直径 5 µm 至 4 mm
多 z 平面扫描
XYZ 轮廓，加上 θ-Φ
焦点位置和直径
实时 M²、指向和发散测量
以 ±1 µm 的重复性识别焦点（取决于光束）
典型应用：
非常小的激光光束轮廓分析
光学组装和仪器调校
OEM 集成
镜头焦距测试
实时诊断聚焦和对准错误
实时将多个组件设置到同一焦点
使用可用的 M2DU 阶段进行 M² 测量
规格参数：
| 项目 | 说明 |
| 波长范围 | Si 探测器：190 到 1150 nm InGaAs 探测器：650 到 1800 nm Si + InGaAs 探测器：190 到 1800 nm Si + InGaAs（扩展）探测器：190 到 2300 或 2500 nm |
| 扫描光束直径 | Si 探测器：5 µm 到 4 mm InGaAs 探测器：10 µm 到 3 mm InGaAs（扩展）探测器：10 µm 到 2 mm |
| 平面间距 | 5 mm：-5、0、+5、+20 mm |
| 光束腰直径测量 | ISO 11146 标准的二阶矩（4σ）直径；拟合高斯与平顶分布 1/e²（13.5%）宽度 可选择的峰值百分比 |
| 光束腰位置测量 | X、Y、Z 三轴上最优 ± 20 µm — 请联系 DataRay 获取建议 |
| 可测光源类型 | 连续光（CW）、准连续光（Quasi-CW） |
| 分辨率精度 | 0.1 µm 或扫描范围的 0.05% ± < 2% 或 ± 0.5 µm |
| M² 测量 | 1 到 > 20，精度 ± 5% |
| 发散度/准直度、指向性测量 | 最优 1 mrad |
| 最大功率与辐照度 | 总功率 1 W，最大辐照度 0.5 mW/µm² |
| 增益范围 | 1‚000:1 可切换；4‚096:1 ADC 范围 |
| 显示图形 | X-Y 位置与剖面，缩放倍数 x1 到 x16 |
| 更新速率 | ~5 Hz，可调范围 2 到 10 Hz |
| 合格/不合格显示 | 屏幕上可选的合格/不合格颜色，适用于质检与生产 |
| 平均功能 | 用户可选的滑动平均（1 到 8 次采样） |
| 统计功能 | 最小值、最大值、平均值、标准差可进行长时间数据记录 |
| XY 剖面与重心 | 显示与记录光束漂移情况 |
| 最低系统要求 | Windows 10 64-bit |
轮廓图：
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